Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers
- Angebotsfrist
- 13.10.2026, 12:00 Uhr
- Auftraggeber
- IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
- Ort
- Frankfurt (Oder), Brandenburg
- Verfahren
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 13.09.2026
Leistungsbeschreibung
Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.
Eignungsanforderungen (Auszug)
- Eintragung in das Handelsregister (Mit dem Angebot; Mittels Eigenerklärung):
Branchen
Automatisch zugeordnet anhand der CPV-Codes und des Titels.
Quelle: Bekanntmachung 279074a6-1745-4fe1-814d-f709007498e7-01 im Datenservice Öffentlicher Einkauf (CC0). Alle Angaben ohne Gewähr – rechtlich maßgeblich sind allein die Originalbekanntmachung und die Vergabeunterlagen.